調査のための光学計器のX線の回折計結晶材料の構成そして原子構造
X線の回折計は結晶材料および材料の構成そして原子構造を調査し、特徴付ける分析的な器械である。X線の回折計は高精度のX線の粉の回折計を作る製品設計の概念に産業プロセス制御の成長した、安定したプログラマブル コントローラの技術をおよび高精度もたらす。プロダクトはよい機械安定性の耐久性、容易な改善、容易な操作とあり、さまざまな企業の分析そして研究をテストするために理性的な特徴、柔軟に合わせることができる。
主要な技術仕様および特徴
ゴニオメーターの構造:縦のゴニオメーターのθs-θd (固定サンプル)
スキャンの半径:標準225mm (185 -調節可能な300mm絶えず
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